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我司恒溫恒濕試驗箱滿足的標(biāo)準(zhǔn)
日期：2025-06-08 03:38
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摘要：
我司恒溫恒濕試驗箱滿足的標(biāo)準(zhǔn)：
GBT 10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 10586-2006濕熱試驗箱技術(shù)條件
GB/T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗A 低溫
GB/T2423.2-2008電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗B：高溫
GB/T 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備
GB/T 5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 濕熱試驗設(shè)備
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我司恒溫恒濕試驗箱滿足的標(biāo)準(zhǔn)：
GBT 10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 10586-2006濕熱試驗箱技術(shù)條件
GB/T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗A 低溫
GB/T2423.2-2008電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗B：高溫
GB/T 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備
GB/T 5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 濕熱試驗設(shè)備
GJB 150.3A-2009 **裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分：高溫試驗
GJB 150.4A-2009 **裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗
GJB 150.9A-2009 **裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第9部分：濕熱試驗 試驗室溫度范圍： 常溫～+55℃
